d33高溫壓電系數(shù)測試儀的應用領域

高溫壓電系數(shù)d33測試儀采用FPGA數(shù)字技術，為激振器提供高度穩(wěn)定的測試頻率，激振器作為核心振源，確保了信號源的精準與可靠。華測儀器在弱信號采集技術方面的深厚積累，高溫壓電系數(shù)d33測試儀實現(xiàn)了在高溫環(huán)境下對壓電系數(shù)的高精度測量，顯著提升了系統(tǒng)的信噪比與穩(wěn)定性。

相較于傳統(tǒng)d33測量儀，本設備在多項性能指標上實現(xiàn)重要突破：不僅測量精度高、量程寬，還具有較強的可靠性和簡便的操作體驗。它能夠直接分析并生成樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，為材料性能研究提供直觀的數(shù)據(jù)支持

技術參數(shù)：

● 壓電陶瓷研究：測試鋯鈦酸鉛（PZT）、氧化鋯（ZrO2）、氧化鈮（Nb2O5）等壓電陶瓷材料在高溫下的壓電性能變化

● 高分子壓電材料研究：測試聚偏氟乙烯（PVDF）等高分子壓電材料在高溫下的性能穩(wěn)定性

● 鐵電材料研究：通過測量不同溫度下的電學性質數(shù)據(jù)，研究鐵電材料的相變行為和電學性能

應用領域：

● 溫度范圍：RT~650℃

● 測試頻率：30Hz-140Hz（可調）

● 測試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測試載荷0.05N-0.5N（可調）

● 電容測量范圍：10pF-0.1μF

● 溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

● 電荷分辨率：高達0.01pC/N